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四院计研所获两项国家发明专利证书

发布时间:2015-05-25    信息来源: 中国航天科工四院

  近日,由中国航天科工四院计研所李永梅等人负责发明的专利《SRAM动态参数的测试方法》、由袁云华等人负责发明的专利《EEPROM读写周期时间的测试方法》获得由国家常识产权局授予的国家发明专利证书。

  两项发明专利使SRAM动态参数、EEPROM读写周期时间的测试图形向量大幅减少,降低了对自动测试系统的要求,不需要很大的图形向量空间就可实现SRAM动态参数、EEPROM读写周期时间具体值的自动测试,十分有利于进行工程质量归零分析。(文/所宣)

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